JC/T 1040-2020 建筑外表面用熱反射隔熱涂料

范圍
本文件規定了建筑外表面用熱反射隔熱涂料的術語和定義、分類和標記、要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸和貯存。
本文件適用于具有反射隔熱功能的平涂型涂料和質感型涂料。

術語和定義
下列術語和定義適用于本文件。
建筑外表面用熱反射隔熱涂料  exterior reflective thermal insulating coatings on buildings
以合成樹脂為基料，與功能性材料及助劑等配制而成，施涂于建筑物外表面，在相同明度下具有較高的太陽光反射比和半球發射率，從而起到隔熱作用的涂料。
質感型熱反射隔熱涂料  textured reflective thermal insulating coatings
表面具有非均一顏色或表面具有立體造型的涂料。
注: 包括具有熱反射隔熱功能的真石漆、多彩涂料和彈性質感涂料等。
太陽光反射比  solar reflectance
注: 300nm~2500nm可見光和近紅外波段反射與同波段入射的太陽輻射通量的比值。
近紅外反射比  near infrared reflectance
在780nm~2500nm近紅外波段反射與同波段入射的太陽輻射通量的比值。
半球發射率  hemispherical emittance
熱輻射體在半球方向上的輻射出射度與處于相同溫度的全輻射體(黑體)的輻射出射度的比值。
與參比黑板的隔熱溫差  thermal insulation temperature difference with reference plate
在相同輻射光源的照射下，參比黑板與測試試板背向光源一側表面溫度的差值。
明度  lightness
表示物體表面顏色明亮程度的視知覺特性值，以絕對白色和絕對黑色為基準給予分度，是顏色的三屬性之一。

分類和標記
分類
按明度(L*值)高低分為低明度L*≤40 (代號為L)；中明度40<L*≤80(代號為M)；中高明度80<L*≤95(代號為MH)和高明度L*>95(代號為H)。
按涂層狀態分為平涂型(代號為F)和質感型(代號為T)。
按使用部位又分為墻面用(代號為W) 和屋面用(代號為R)。
標記
按產品名稱、標準編號、明度、涂層狀態、使用部位的順序標記。
示例: 符合本文件的建筑外墻用中明度平涂型熱反射隔熱涂料標記為:
建筑外表面用熱反射陽熱涂料 JC/T 1040-2020 M F W

要求
基本性能
應符合表1所列產品標準中高等級要求。


反射隔熱性能
平涂型
平涂型熱反射隔熱涂料反射隔熱性能應符合表2的要求。


質感型
質感型熱反射隔熱涂料反射隔熱性能應符合表3的要求。


試驗方法
半球發射率
按附錄B的規定進行。

附錄B  (規范性附錄)
半球發射率的測定一一輻射計法

原理
加熱探測器內的熱電堆，使探測器和試板之間產生溫差。該溫差與試板的發射率呈線性關系，在溫度穩態下通過比較高、低發射率標準板與試板表面溫差的大小，得出試板的發射率。

試驗裝置
輻射計
差熱電堆式輻射能探測器
由可控加熱器、高發射率探頭元件和低發射率探頭元件構成，可控加熱器應能保證探測器溫度高于試板溫度或標準板溫度。發射率探頭元件應能產生與溫差成比例關系的輸出電壓。探測器重復性應為±0.01。
讀數模塊
讀數模塊與差熱電堆式輻射能探測器相連，用于處理熱電堆輸出信號。讀數模塊數顯分辨率應為0.01。
熱沉
熱沉用于放置試板和標準板，熱沉應導熱良好，能使試板和標準板溫度穩定一致。
標準板
由低發射率標準板和高發射率標準板組成。

測試試板制備
平涂型F
將攪拌混合均勻的涂料刮涂或噴涂在鋁合金板表面，至少分兩次施涂，施涂時間間隔不小于6h。溶劑型產品干膜總厚度控制在0.10mm~0.20mm，水性產品控制在0.15mm~0.30mm。在標準試驗條件下養護7d后進行試驗。有配套底漆和罩面漆時也可按照產品說明進行制樣，并在報告中注明各道涂料的施涂工藝。
質感型T
將攪拌混合均勻的涂料刮涂或噴涂在鋁合金板表面。多彩類涂料涂層干膜總厚度0.20mm~0.50mm，其他類質感型涂料干膜總厚度約為2mm。在標準試驗條件下養護14d后進行試驗。有配套底漆、中涂和罩面漆時，也可按照產品說明進行制樣，并在報告中注明各道涂料的施涂工藝。

試驗過程
平涂型樣品
在標準試驗室環境中調節狀態使高低發射率板、熱沉和試板溫度一致。
開啟試驗裝置電源，儀器預熱至穩定。
將高、低發射率標準板置于熱沉上，探測器分別放在高、低發射率標準板上90s，通過微調使讀數與標準板的標示值一致，再重復一遍此步驟。
將試板置于熱沉上90s，然后將探測器放在試板上直至讀數穩定，即為測量結果。
質感型樣品
將高、低發射率標準板置于熱沉上，將試板放置在熱沉邊，在標準試驗室環境中調節狀態使高低發射率板、熱沉和試板溫度一致。
開啟試驗裝置電源，儀器預熱至穩定。
將探測器分別放在高、低發射率標準板上90s，通過微調使讀數與標準板的標示值一致，再重復一遍此步驟。
將探測器放到試板被檢測表面上位置1大約20s，然后將探測器貼著被測表面滑動至位置2停留大約15S，再滑動至位置3停留大約15s，最后滑動至位置4停留約20s，記錄位置4的讀數，每個位置點間距約為100mm，如圖B.1所示。


結果處理
取所有試板測量結果的算術平均值作為最終結果，結果應精確至0.01。同時報告試板干膜厚度。


輻射計法半球發射率測定儀 D&S AERD